NI参加首届北京国际无线会议及展览会

　　美国国家仪器公司(National Instruments, 简称NI)于2013年4月14日-16日在北京参加了首届北京国际无线会议及展览会(IWS 2013)，IWS2013是由IEEE微波理论与技术协会(MTT-S)在中国举办的首届国际无线会议及展览。NI作为本次活动的主要赞助商之一，在展会上展示了其最新的微波与射频测试测量产品和解决方案。

　　NI在此次展会上展出的产品包括基于矢量信号收发仪(VST)的信道仿真器与全新WLAN 802.11ac测试方案。通过比较，我们可以看到这款基于PXI平台的射频仪器具备与传统箱式仪器相媲美的性能指标同时又兼具灵活性。在NI展台还可以看到NI最新发布的矢量网络分析仪与频谱监测仪等其他高性能射频仪器。

　　NI中国技术市场工程师姚远在本次展会的工业论坛上为观众介绍了以NI软件为中心的模块化射频解决方案。姚远先生从摩尔定律讲起，介绍了摩尔定律对于射频仪器行业的影响。NI提出的基于PXI平台的射频与微波测试方案，可以利用不断发展的现成可用技术，将摩尔定律在射频仪器行业延续下去。在此基础上，这种解决方案还具能够拓展测量精度与范围，提升射频测量速度，增加系统可扩展性以及优化射频设计流程等优势。

　　NI不仅在硬件和软件上不断研发高端及和射频相关的产品，此外NI还在行业中寻找相关的顶尖厂商进行合作，用以丰富NI的射频技术，使NI能有一个更加完整和可靠的射频硬件平台，从而为NI的客户在射频和微波领域提供更好的解决方案。AWR就是NI收购的一家在高频设计和建模上处于领先地位的EDA公司。此次AWR参加IWS，为客户带来了专门用于开发高频无线设计的具有新的功能和增强功能的AWR Design Environment最新版本。这个10.04最新版本包括Microwave Office^®/Analog Office^® 电路设计软件和Visual System Simulator (VSS) 系统设计软件，以及AXIEM^® 3D平面电磁(EM)软件和 Analyst有限元法(FEM)EM软件的更新和许多创新技术。