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PCAP01 – 革新电容数字转换器单芯片方案

作者:朱登科 acammesselectronic GmbH时间:2011-11-10来源:电子产品世界收藏

 

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/125744.htm

  1 前言

  在很多工业和消费类产品中都有非常广泛的应用,因其小尺寸和低功耗以及高精度等方面的特性,在很多领域广受青睐。而对于的测量来说,传统的电路方式有其无法克服的局限性。复杂的模拟电路设计,难以扩展的电容测量范围,都会给开发带来非常大的阻力。尽管存在一些所谓的简单易用的电容数字转换器单芯片方案,但无论从价格,性能,和简单程度上,还是会有诸多限制。

  德国公司专利的®测量原理则给电容测量提供了革命性的突破。在2011年推出了最新的带有内部DSP单片机的单芯片电容测量方案PCAP01, 这个芯片会使电容测量提高到一个前所未有的水平。

  2.概述

  PCap01为带有单片机处理单元的一款专门进行电容测量的电容数字转换单芯片方案。这颗芯片测量范围覆盖了从几fF到几百nF,而且可以非常简单的通过配置来满足各种不同应用的需求。PCap01既适合超低功耗最低至几个uA的测量,也适合高精度达到21位有效位的高性能测量,还可以进行最高达50万次每秒钟的快速测量。这颗芯片提供了对于高精度测量,低功耗测量以及快速测量应用的的完美结合。传感器数据可以在芯片内部进行现行校准,然后通过SPI或者IIC数据串行接口进行传送。另外,芯片还可以通过IO口来发送 PWM/PDM 输出电压信号。其余的IO口可以作为中断管脚,水平报警信号管脚或者普通IO口来应用。

  PCap01 有非常小的QFN封装尺寸,仅需要极少数量的外部元器件 (至少需要2个外部双通电容) ,使整个系统的设计非常紧凑而且降低成本,适合很广泛的电容测量。

  3. 测量原理介绍

   测量原理展示了对于电容测量的新的革命性的方式。在这个原理中,一个传感器的电容和一个参考电容被连接到同一个放电电阻,组成了一个Low-pass低通滤波。

  电容首先被充电到电源电压,然后通过电阻进行放电。而放电到一个可控制阚值电压的水平将会被芯片内部的非常高精度时间数字转换器TDC所记录下来。

  这个测量过程将会在传感器和参考电容上重复交错进行,应用同样的电阻。计算的结果是测量的比值结果,是与电阻和比较器温度相关性有关。传感器和参考电容数值的选择应该为统一范围来降低增益偏移。实践角度讲,对于被测电容没有大小的限制。传感器几乎可以从0fF到几十nf。PICOCAP同时也支持差动的测量带有内部的线性补偿。


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