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泛华测控智能角度位移传感器测试系统喜获“最佳产品奖”

—— 测控智能角度位移传感器测试系统喜获“最佳产品奖”
作者:时间:2011-03-21来源:电子产品世界收藏

  由《电子技术应用》主办的“2010年度优秀电子产品”评选活动近日揭晓,北京中科技术有限公司(简称:)榜上有名。由该公司自主研发的智能系统喜获“最佳产品奖”。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/117885.htm

  智能系统主要用于对磁电式弧形或圆形传感器的标定和功能测试,可实现对测试环境中温度、湿度、运动等各个方面的精密控制。其千分之一的控制精度、万分之一的测量精度,充分领先于同行业同类测试产品水平。

  该产品采用高温绝缘设计,利用特制耐高温箱体设计来达到测试环境的恒温需求。测试箱内的密闭温度可根据被测件的实际需求来控制在25—125℃之间任意一点。测试台、机柜分离的设计,可满足用户对设备高复用性的要求。



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