新闻中心

EEPW首页 > 测试测量 > 业界动态 > TD LTE产业链呼唤低成本测试仪表

TD LTE产业链呼唤低成本测试仪表

作者:时间:2010-04-20来源:通信产业报收藏

  尽管整体产业链相对FDDLTE发展较慢,但是用于测试的仪表比以往有了很大的改善,已经能够与设备研发的步调相匹配。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/108146.htm

  在网络协议测试方面,由于测试标准仍未最后定稿,所以各厂商仍积极跟踪TD-LTE标准,不断更新其产品,以R&S为代表,其协议测试仪CMW500,可以提供的频率高达6GHz,带宽为40MHz,可以用于一致性测试,性能测试和互操作测试。

  网络测试无论对TDD还是FDD都是一个挑战,在原GSM和UMTS等现有技术中,涉及网络接入,包括拥塞、干扰和覆盖问题等一大部分可观的信息都在有线网络接口上提供,通过使用传统工具,就能够得出测试结果,而在LTE中,情况发生了变化,因为网络接入节点设计得更加智能,接入网络控制功能直接转移到了eNodeB的网络边缘上。网络接入部分和核心部分间的有线接口不再提供关键的无线性能信息,无法确定存在哪些问题。这意味着厂商和运营商被迫要直接查看空中接口,以获得与网络接入性能和服务质量有关的信息,另外还必须能够把这种分析简便地与其他网络接口的数据关联起来。

  信号源、信号分析仪表很多时候被划分为基础通用仪表,之前的测试厂商的水平已经研发出具有竞争力的产品,不存在难点。

  下一步,一方面测试厂商需要紧跟TD-LTE标准的确立,尽快推出TD-LTE协议,另一方面需要从终端测试产品入手,尽快推出成本低的产业化仪表。

  随着TDD受到的关注加大可以预见将会有更多的测试厂商参与到TD-LTE的研发,前景好于预期。



关键词: TD-LTE 测试仪表

评论


相关推荐

技术专区

关闭