- 摘要 在复杂实验条件下,需采用非易失性铁电存储器记录重要数据。为防止二次上电时实验数据被覆盖,需设计防掉电功能。文中介绍了一种F-RAM的防棹电设计思路,并基于现场可编程门阵列实现,板级验证工作正常,并已
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非易失铁电存储器 防掉电 现场可编程门阵列
非易失铁电存储器介绍
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