- 安捷伦推出安捷伦Medalist VTEP v2.0，这是由非向量测试功能组成的套件，其中包括新的NPM测量技术。 这一测试功能是在世界上第一次包括NPM测量技术。用户可以检测连接器上电源管脚和接地管脚中的开路，而许多业内人士曾一度认为这超出了现有测试能力的范围。 随着信号在电路板上传输的速度越来越高，如在PCIe、DDR和SATA 连接器上，正确接地正变得日益关键。随着速度提高，接地针脚上的开路可能会导致信号集成的设计范围降低，误码率(BER)提高，放射电磁干扰(EMI)提
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安捷伦 测量 测试 非向量
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