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集成电路自动测试设备ic测试ate测 文章 进入集成电路自动测试设备ic测试ate测技术社区

IC测试基本原理与ATE测试向量生成

  • 集成电路测试（IC测试）主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难。因此，研究...
  • 关键字： 集成电路自动测试设备IC测试ATE测  
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集成电路自动测试设备ic测试ate测介绍

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