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NI主办第三届“设计、验证及测试论坛”
美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)于9月底在北京成功主办第三届“设计、验证及测试论坛”(Design Validation and Test Forum,即DVTF 2006)。本届DVTF是继2004和2005年之后,NI连续第三年在中国地区成功地举办这一活动,并且DVTF的品牌业已在行业用户和媒体间确立了相当的知名度。 本届论坛以一场形式新颖的主题演讲开始,并分为“自动化测试”和“嵌入式系统设计”两
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测试测量
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