- 去年，TechInsights通过一系列博客展示了电气特性的力量，对于揭示碳化硅器件规格书远远不能提供的碳化硅器件特性。分析半导体掺杂的技术多种多样，例如：· 扫描式电容显微镜（SCM ），我们经常将它包含在我们的功耗报告中，这为我们提供了大面积的相对掺杂物分析。· 扫描式电阻测定（SRP）和二次离子质谱（SIMS）可以给出定量分析，但是尺
- 关键字：
TechInsights 碳化硅JFETs原子探针层析成像
碳化硅jfets原子探针层析成像介绍
您好，目前还没有人创建词条碳化硅jfets原子探针层析成像!
欢迎您创建该词条，阐述对碳化硅jfets原子探针层析成像的理解，并与今后在此搜索碳化硅jfets原子探针层析成像的朋友们分享。
创建词条
关于我们 -
广告服务 -
企业会员服务 -
网站地图 -
联系我们 -
征稿 -
友情链接 -
手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案：1101082052 京公网安备11010802012473
