- 1、问:测量到最小尺寸能否达到12ΜM,或者能够测到更小尺寸?答:可以,垂直分辨率是0.1nm,XY分辨率依物镜而有...
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白光干涉仪 分辨率 扫瞄器
白光干涉仪介绍
白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术,是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量系统,,为韩国SAMSUNG全球唯一指定供应商,LPL友好俱乐部成员,清华大学,台湾大学,首尔大学友好合作伙伴。 1、非接触式测量:避免物件受损。 2、三维表面测量:表面高度测量范围为1nm-200μm。 3、多重视野镜片:方便物镜的快速切换。 4、纳米级分辨率:垂直分 [
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