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高压摆率负载瞬态测试

• 微处理器和应用特定集成电路 (ASIC) 需要低电压、高电流电源。此类电源通常对输出电压偏差有非常严格的要求，对于负载瞬态事件尤其如此。测试此类电源会给设计人员带来一定的挑战，并且可能难以确认是否符合规范。本文将介绍更多负载瞬态测试的详细信息以及可用于简化这些复杂测试的方法。首先，需要了解所有瞬态规格，以便合理设计电源，同时还需要了解它们如何应用于测试。典型的瞬态规格包括：● 负载阶跃大小，以安培为单位或以占满负载的百分比表示。● 瞬态事件（有时为零）期间的最小负载。● 负载阶跃的压摆率，通常以
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