- 一、研究背景在微波暗室内对基站天线进行测试是一种常用的方法。由于暗室尺寸的限制,对增益较高的天线,往往不能满足远场测试条件。在这种情况下测试结果与远场情况下的测试结果有较大差异。本报告给出了一种由准远场...
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