- 超快速IV测量技术是过去十年里吉时利推出的最具变革性的方法和仪器，吉时利一直以其高精度高品质的SMU即原测试单元而著称，吉时利的原测试单元在过去的三十年里一直被当做直流伏安测试的标准，一些著名的产品例如236
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IV测试 技术简介 半导体器件 特性测试
- 引言：EEE 1149.1边界扫描测试标准(通常称为JTAG、1149.1或dot 1)是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法，大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1(JTAG)标准。为了更好地理解这种
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JTAG 嵌入式系统 电路 特性测试
- WLAN技术带来了新挑战，如何才能有效地消除干扰？WLAN基站和接入点功率管理的效率如何？这些问题必须通过综合测试方案加以解决，本文专门论述了WLAN器件开发和网络规划中关键特性测试的意义和优势。WLAN技术为半导体
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WLAN 器件 网络规划 特性测试
- 摘要：这里采用一种基于动态电容充电方法，结合高速A／D采样和数据处理，实现对光伏阵列的现场I-V特性测试。该方法具有安全性高、体积小、成本低、精度高等特点，并可用于更大功率的光伏阵列现场测试。详细介绍了系统
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I-V 小功率 光伏阵列 特性测试
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IV测试 半导体器件 特性测试
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