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TC-08温度记录仪在光学薄膜激光量热吸收测试的应用

- 摘要:在激光系统中,光学薄膜的抗激光强度较低,这是光学薄膜研究中最重要的问题之一。测量光学薄膜对强激光的热吸收情况对于光学薄膜的性能研究具有重大意义,而TC-08是一款可靠灵活的温度记录仪。本文介绍了利用TC-08温度记录仪“接触式”地测试光学薄膜激光量热吸收的测试,大大地扩展了TC-08在光电行业的应用。
- 关键字: 广州虹科 光学薄膜 热吸收 TC-08温度记录仪 温度测试
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