首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> 测试效率

测试效率 文章 进入测试效率技术社区

鼎阳科技推出SDG3000X任意波形发生器,配备7寸大屏,支持40Mpts存储深度与1.2GSa/s采样率

  • 2025年2月18日,鼎阳科技推出新一代任意波形发生器SDG3000X系列,此系列产品具有16-bit垂直分辨率,最高200MHz输出频率,1.2GSa/s采样率,每通道最大存储深度40Mpts,并采用了创新的EasyPulse和TrueArb技术,显著降低波形抖动。除此以外,SDG3000X内置任意波形大于196种,配备7英寸电容触摸屏,支持直观的操作设置,还具有序列波发生、噪声发生、谐波发生、IQ信号发生、PRBS码型发生和各种复杂信号生成的能力,支持多脉冲输出,助力功率器件双脉冲测试。SDG3000
  • 关键字: 意波形发生器  测试效率  

测试工具和测试自动化

  • 人类的进化史和发展史,就是一个不断创造和使用工具的历史。工具是人类想象力的物理呈现,也是社会进步的巨大助...
  • 关键字: 测试工具  测试自动化  测试效率  
共2条 1/1 1

测试效率介绍

您好,目前还没有人创建词条测试效率!
欢迎您创建该词条,阐述对测试效率的理解,并与今后在此搜索测试效率的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473