- 引 言 目前现有的测磁仪，采样使用的A／D大多为10位A／D，这使得其采样精度低，测量误差大，而且抗干扰能力差。CPU大都以单片机为主，供电电源为5 V，控制器功耗比较大；主频低使得指令执行周期长，计算速度慢，在
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8364 ADS 测磁仪
- 1 引 言
目前现有的测磁仪，采样使用的A／D大多为10位A／D，这使得其采样精度低，测量误差大，而且抗干扰能力差。CPU大都以单片机为主，供电电源为5 V，控制器功耗比较大；主频低使得指令执行周期长，计算速度慢，在一个工频周期内的采样点数少。在环境恶劣的工业现场，由于其传感器、放大器及隔离器件本身的技术原因，性能相对较差，容易受到干扰。而且现有测磁仪的功能大都比较简单，通常以单通道为主，外加一个霍尔传感器，一般只能测量试品外壁某一点的磁感应强度，对于铁芯内部等传感器无法到达的部位不能进行测量。
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