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相控阵天线有源驻波测试

• 天线在实际工作时，除了辐射信号，由于自身的原因会在其端口存在驻波，而相控阵天线的天线单元间还存在互耦效应，使得天线的驻波增大，会对发射机功放组件造成一定损坏。因此在设计相控阵天线时，必须考虑此驻波及其影响。针对相控阵天线有源驻波测试的需求，提出利用多通道相参信号源模拟相控阵实际扫描状态，从而进行相控阵辐射状态下的有源驻波测试。1  引言相控阵天线处于工作状态（发射或者接收）时，天线单元之间存在一定的电磁能量耦合，即互耦效应。互耦效应的存在改变了天线单元的阻抗特性，影响了阵列天线的波束形状和增益。
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