- 简介此KWIK(技术诀窍与综合知识)电路应用笔记提供了解决特定设计挑战的分步指南。对于给定的一组应用电路要求,本文说明了如何利用通用公式应对这些要求,并使它们轻松扩展到其他类似的应用规格。 在任何采样系统中,例如涉及ADC的测量系统中,有一种称为混叠的现象,它可能导致处于较高频带的信号“向下折叠”到奈奎斯特频带,使其与目标信号无法区分。奈奎斯特频率是采样速率fs的一半。由ADC采样的电路带宽应小于采样速率的一半。混叠会导致干扰信号和噪声污染输出,从而影响测量精度。图1和图2分别显示了正确采样(高采样速率)
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Sallen-Key 滤波器 抗混叠架构
抗混叠架构介绍
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