- 简介利用高压、大电流源测量单元(SMU)来设计和构建功率半导体器件直流特性分析测试系统包括以下几个步骤:bull;选择满足测试要求的设备b
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大功率数字源表多源测量单
- 确定器件接口过去，大多数功率半导体制造商为了测试不得不对器件进行封装，因为当时对晶片上器件施加数十或数千伏电压的技术尚未广泛使用。
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- 仪器连接待测器件(DUT)与仪器的连接对于获得有意义的结果是至关重要的。在使用吉时利8010型大功率测试夹具时，利用吉时利公司提供的电缆连
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- 确保测试期间使用的电缆符合测试系统最大电压额定值。在功率器件关闭状态特性分析期间经常遇到高压、低电流测试，要使用能够实现这类测试所
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- 在测试系统问题中，被误解最多的就是接地。这里，接地定义为到接地端的连接。不过，许多人往往使用接地一词表示测试电路中源测量单元（SMU
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- 进行布线和夹具设计时，考虑系统安全性也很重要。为了确定操作人员以及仪器会遇到什么危险，要对各种故障情况进行思考，包括因操作人员失误
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- 一旦系统建立完毕，就要对其功能进行测试，并优化仪器建立，以获得最佳测量。对于开启状态特性分析在当今进行的大部分开启状态特性分析中，
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- 当同时使用多个仪器时，对待测器件的源和测量时序进行协调非常重要。因此，利用可用的软件方案、以简化和或避免昂贵的编程，是非常有利的
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大功率数字源表多源测量单介绍
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