首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> 声强测试系统

声强测试系统 文章 进入声强测试系统技术社区

声强测试系统中DSP和ADC的接口电路

  • 2004年6月A版 摘   要:本文简述了TMS320C5409与MAX125之间的硬件接口设计和软件编程方法及其在声强测试系统中的应用。 关键词:DSP;ADC;声强测试 引言   随着“绿色设计”的兴起和人们对环境保护的意识增强,噪声控制已成为现代工业发展的一项重大任务。而低噪产品设计很大程度上依赖于声强测量。通过测量分析,可以了解产生振动和噪声的原因,从而找到降低噪声的有效途径。过去的声强测试系统中,一般基于单片机技术,数据处理能力差、可扩展空间小,只能实现时域分析。近年来
  • 关键字: 声强测试系统  测试测量  
共1条 1/1 1

声强测试系统介绍

您好,目前还没有人创建词条声强测试系统!
欢迎您创建该词条,阐述对声强测试系统的理解,并与今后在此搜索声强测试系统的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473