- 本文对嵌入式存储器的测试及可测性设计进行研究总结，为我国存储器测试的研究以及集成电路测试产业的发展奠定坚实的技术基础。
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嵌入式存储器 测试向量 可测性
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高频 锁相环 可测性
可测性介绍
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