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计算机视觉加速半导体分析

• 在最近发表在《自然通讯》杂志上的一篇文章中，研究人员介绍了一套自动表征（自动表征）工具，利用自适应计算机视觉技术快速准确地测量半导体材料的关键特性。他们在一个高通量合成平台上演示了这些工具的应用，该平台在一小时内生产出独特的钙钛矿半导体。背景半导体材料广泛应用于电子学、光电子学、太阳能电池和传感器等各个领域。然而，发现和优化新半导体材料是一项具有挑战性的任务，因为这需要探索一个大而复杂的材料搜索空间，并表征影响设备性能和稳定性的材料特性。高通量合成方法已经被开发出来，以加速多样化材料样品的生产，但它们在表
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