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数据驱动的半导体决策转变

• 半导体生命周期中的数据爆炸半导体行业一直都是数据密集型的。然而，现在的话题正在从数量转向质量。这不再是关于我们生成了多少数据，而是关于这些数据的连接、情境化和解释程度。半导体数据与通用的企业或消费者数据有着根本的不同。漏电流读数、故障箱代码或晶圆缺陷没有意义，除非在产生它的硅工艺、测试环境或设计约束的背景下理解它。在产品开发的早期阶段，设计工程师通过RTL回归、逻辑覆盖率报告和时序收敛检查来生成仿真数据。随着设计进入制造阶段，硅数据开始积累，包括在线计量读数、临界尺寸测量、工具状态日志和晶圆级缺陷图。每个
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