- 引言 内装测试(BIT)是20世纪70年代美国在军用测试领域提出的全新的技术概念,其目的在于改善装备的维修性、测试性和自诊断能力,同时也使装备系统的机动性和保障性得到很大改善。20世纪70年代以来,以航天航空等国
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BIT 内装 测试 故障诊断
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