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存储器冗余的关键区域分析

• 存储器冗余旨在通过提高片芯良品率，从而降低制造成本。如果不采用冗余方法，提高片芯良品率的其它方式可能包括使设计更小型化，或减少缺陷率。如果在设计中无效益的部分使用冗余，那是浪费片芯面积和测试时间，增加了制造成本。在这两个极端之间，要根据充分的指导方针来确定是否增加冗余。有高缺陷率的设计可能需要较多的冗余；而低缺陷率的设计则可能不需要冗余。要量化良品率的改善以及确定最佳配置，有必要采用关键区域分析与精确的代工厂缺陷统计数据，对存储器冗余做分析。
• 关键字： 存储器冗余  随机缺陷  关键区域分析