- 美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)2011年度“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站于11月18日在上海国际会议中心圆满落幕。围绕“融汇成功、启迪未来”这一主题，本届NIDays打造了一场分享与交流的技术盛会，聚焦不同行业的成功应用，启迪未来的项目实践，加速创新。活动共吸引了近千余位来自不同行业的工程师和二十多家行业媒体参加。
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NI 测控技术
- 美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)近日发布了全新版本的NI CompactRIO 模块开发套件(MDK)并规定了NI Single-Board RIO的RIO夹层卡(RIO Mezzanine Card ，RMC)标准， 进一步扩大了集成式和板级嵌入式控制和监测系统上增加特定或自定义I/O的选择范围。借助此项技术，系统集成商和原始设备制造商(OEM)能够将自定义电子设备与可靠的NI可重复配置I/O(RIO)硬件系统完全集成，使科学家和工程师获得与NI产品相同的用户体
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NI MDK RIO
- 美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)近日在最佳工作场所评选机构所公布的全球前25大最适合工作的跨国企业排名中名列第18位。 NI总裁兼CEO，创始人之一的James Truchard博士昨晚同其他跨国领先企业，包括谷歌，英特尔和微软的高层管理人员共同参加了纽约证券交易所的盛会。
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NI 测量和控制
- 美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)近日为NI可重复配置I/O(RIO)技术推出两项全新的补充技术，包括用于高级嵌入式视觉应用的可重复配置的Camera Link图像采集卡，和用于NI CompactRIO平台的运动控制模块。NI PCIe-1473R图像采集卡是一块基于PC技术的嵌入式视觉板卡，将现场可编程门阵列(FPGA)和Camera Link接口结合，帮助工程师创建高性能嵌入式成像和检测应用。NI 9502 无刷伺服驱动C系列模块可让工程师直接在可重复配置
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NI RIO NI PCIe-1473R NI 9502
- 美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)为扩大智能相机产品家族，近日宣布发布7款全新智能相机，包括彩色和高分辨率等选项。全新NI 177x智能相机配备了拥有更强大处理功能的1.6 GHz英特尔Atom处理器， 并符合IP67(防护等级)评级，可防尘防水。该智能相机性能极佳且外形坚固，使得它成为工业检测应用的理想之选。 此外，相机还安装了实时操作系统，为生产车间提供所需的可靠性和确定性。
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NI 智能相机 177x
- 美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)近日在英国曼彻斯特的欧洲微波展上发布了完整的基于PXI平台的解决方案，用于RF功率放大器(PA)验证和生产测试。该解决方案充分体现了NI致力于为工程师提供快速、高效和准确的测试和测量解决方案的承诺。 全球领先的市场研究公司Frost&Sullivan同时指出，PXI市场规模有望于2017年达到10亿美元，NI也通过不断推进PXI模块化仪器的发展而推动PXI市场规模的增长。
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NI 测试 放大器 PXIe-5665
- 新闻发布——2011年10月——美国国家仪器有限公司（NationalInstruments，简称NI）近日在英国曼彻斯特的欧洲微波...
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NI PXI
- 2011年10月—— 美国国家仪器公司（National Instruments 简称NI）发布了NI USRP-2920和NI USRP-2921通用软件无线硬件（USRP）。与之前高校射频和通信实验室依赖于计算机软件仿真加强理论学习的教学方法相比，USRP提供了一种全新的教学平台，将与真实信号交互的动手实践教学引入射频和通信实验室。 NI USRP全新教学平台包括NI USRP硬件、NI LabVIEW软件和现成即用的实验指导书，为高校教师提供了价格合理、现成即用的教学方案，让学生有机会通过实际应用理
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NI 无线 USRP
- 2011年9月—— 美国国家仪器公司(National Instruments 简称NI)发布最新版本基于配置的软件环境NI VeriStand 2011，用于实时测试和仿真应用，包括硬件在环(HIL)仿真和Test Cell中的测控应用。 直观、开放的软件界面帮助工程师实现出众的系统灵活性，同时也减少了测试开发时间。 全新版本进一步增强了内置的实时激励配置工具，可快速创建复杂的实时执行测试序列，包括循环和分支结构、组合运算功能以及多任务处理等等。
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NI 测试 VeriStand 2011
- 2011年9月—— 美国国家仪器公司(National Instruments 简称NI)发布NI DIAdem 2011，这款最新版本的软件工具专为工程师和科学家而设计，帮助他们更有效地定位、查询、分析和报告测量数据。DIAdem 2011为工程师提供了全新的数据加载方式，缩短了大数据量加载的时间，而新增的Microsoft Excel DataPlugin向导，可以帮助用户轻松地将数据从Excel导入DIAdem，此外，增强的DIAdem报表功能使用户获得更丰富更灵活的报表生成体验。
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NI 测量 DIAdem 2011
- 美国国家仪器有限公司(National Instruments, 简称NI)近日于中国的北京和广州分别开设了其在华的分公司，开业仪式在北京和广州分公司隆重举行。NI全球销售和营销高级副总裁Pete Zogas、亚太地区销售和营销副总裁Victor Mieres、大中国区总经理陈大庞、中国区销售经理陈健忠以及NI在各地的合作伙伴、客户和媒体代表出席了盛大的开业仪式。
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NI 半导体
- 世界各地的工程师和科学家们都在使用LabVIEW来应对面临的挑战，原因很简单，使用LabVIEW后他们的工作效率更高。
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NI LabVIEW 201109
- 美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)扩展其PXI平台的功能，通过新发布的每个引脚参数测量单元模块(PPMU)和源测量单元模块(SMU)用于半导体的特性描述和生产测试。NI PXIe-6556 200 MHz高速数字I / O具备PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低资本设备成本，缩短测试时间，并提升各种测试设备的混合信号灵活性。
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NI PXI平台
- 2011年8月——美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)扩展其PXI平台的功能，通过新发布的每个引脚参数测量单元模块(PPMU)和源测量单元模块(SMU)用于半导体的特性描述和生产测试。NI PXIe-6556 200 MHz高速数字I / O具备PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低资本设备成本，缩短测试时间，并提升各种测试设备的混合信号灵活性。
使用NI PXIe-6556高速数字I /
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NI PXI平台 PPMU SMU
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