- 光电通信转换器自动化测试系统按照光纤模块产品对外接口规范设计测试系统，采用基于PXI平台的模块化产品和分立式测试仪器相结合的方式进行设计，提供了对光纤模块产品的接口通信功能和性能指标的测试功能，可以完成不同产品的自动化测试。
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PXI平台 模块化 光纤模块 自动化测试 201712
- NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于帮助工程师和科学家应对全球最严峻的工程挑战的平台系统供应商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于图形向量的数字通道板卡和NI数字图形向量编辑器。
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NI ATE PXI平台
- 美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)扩展其PXI平台的功能，通过新发布的每个引脚参数测量单元模块(PPMU)和源测量单元模块(SMU)用于半导体的特性描述和生产测试。NI PXIe-6556 200 MHz高速数字I / O具备PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低资本设备成本，缩短测试时间，并提升各种测试设备的混合信号灵活性。
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NI PXI平台
- 2011年8月——美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)扩展其PXI平台的功能，通过新发布的每个引脚参数测量单元模块(PPMU)和源测量单元模块(SMU)用于半导体的特性描述和生产测试。NI PXIe-6556 200 MHz高速数字I / O具备PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低资本设备成本，缩短测试时间，并提升各种测试设备的混合信号灵活性。
使用NI PXIe-6556高速数字I /
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NI PXI平台 PPMU SMU
- 2008年10月——美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）与BAE Systems公司、Phase Matrix公司于近日共同发布了一款针对军事和商业射频/微波应用的、基于PXI平台的下一代26.5GHz综合测试仪。这款综合测试仪通过整合模块化硬件与平台软件来创建用户自定义的测试测量系统，它属于虚拟仪器的一个分支。新款综合测试仪是以5个兼容3U PXI Express的射频/微波下变频模块为基础而设计的，它拥有从100kHz到26.5GHz的
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PXI平台 NI Phase Matrix 射频综合测试仪
- 摘要： 本文主要介绍如何利用NI的优势技术，具体实现RFID测试系统的构建。关键词： RFID测试；PXI平台；板载FPGA
RFID测试需求及现状作为无线通讯的新兴领域之一，RFID技术在具有无线通讯技术所共有的特性之外，又有着其独有的特殊性，其中最为重要的是标准的多样化。国际上制定RFID标准的组织比较著名的有三个：ISO，美国的EPC global以及日本的Ubiquitous ID Center，目前已定义的RFID标准，包括工作频率在低频(120-134kHz)，高频(13
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0701_A PXI平台 RFID测试 板载FPGA 测量 测试 杂志_技术长廊 模块
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