- 迎 九 （《电子产品世界》编辑，北京 100036） 摘 要：介绍了集成电路测试机（ATE）面临的挑战与解决方案。 关键词：集成电路；测试；微调；trim 集成电路自动测试设备（ATE，测试机）是检测芯片功能和性能的专用设备，据SEMI预测，2019年中国测试机占据后道检测设备62.8%的份额 [1] 。ATE测试的趋势是什么？电子产品世界记者访问了泰瑞达业务战略总监翟朝艳（Natalian Der）女士。 1 芯片测试的新挑战 当今的半导体公司可谓重任在肩：需要在芯片上整合多种功能，有高性
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202001 集成电路 测试 微调 trim
- 三星今天公布了型号为470的SSD产品系列，它们分为64/128/256GB三个版本售价分别为199、399和699美元。这种SSD采用30nm MLC闪存打造，内置双控制器，支持TRIM，采用3Gbps的SATA接口连接，写入和读取速度分别为250和220MB/s，随机读取写入性能为21000IOps和21000IOps，不过64GB版本的性能要稍低，写入速度仅有170MB/s，随机写入性能为11000IOps。
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三星 30nm TRIM
- 德州仪器(TexasInstruments，TI)推出一款具有e-Trim修整技术和低噪声的单电源运算放大器OPA376。OPA376采用超小型封装，提供25μA低偏移电压(最大值)、5.5MHz大频宽、7.5nV/√Hz低噪声密度和950μA静态电流(最大值)。 以上这些特性使新组件在各项参数间取得平衡，满足滤波、数据撷取和单电源处理系统的交流和直流规格要求，适合传感器与信号调节、无线通信、医疗仪器、掌上型测试装置和消费音频产品等应用。&nbs
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模拟技术 电源技术 TI e-Trim 运算放大器 模拟IC 电源
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