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RF微波测试 正确性 DUT 量测仪器
- 面向集成设备制造商(IDM)和最终测试分包商，设计和制造测试分选机、测试座、测试负载板的领先厂商Multitest公司，日前宣布欣然宣布其MT9510通过扩展温度校准(XTC)功能实现了扩展温度控制。
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Multitest 测试负载板 DUT
- 电子设计中经常碰到的问题是对待测电路(DUT)传输特性的测试，这里所说的传输特性包括增益和衰减、幅频特...
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DDS信号源 扫频测试 DUT
- 为测试电子和机电器件设计开关系统所遇到的问题和设计产品本身一样多。随着器件中高速逻辑的出现以及与更灵敏模拟电路的连接，使得降低测试开关系统中的噪声比以前任何时候更加重要。
本文所述的噪声降低技术准则是针对信号频率低于300MHz、电压低于250V、电流小于5A和电压乘赫兹积小于107。
任何新式测试系统都用很多信号和电源线来仿真和测量DUT(待测器件)，并有各种各样的开关进行自动连接。通用测试系统结构示于图1。控制总线示于图中左边。模拟、数字和电源总线作为垂直线对示于不同子系统后面。
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测试 噪声 DUT
- 消费类电子产品正在变得更复杂和更快速，因而使得测试成本成为问题。大的和复杂的SoC往往是消费类产品的心脏，不管它们的性能多么先进，其成本必须是低的。
各种内装自测试(BIST)已应用于测试DUT(被测器件)的内部性能，导致产品较低的生产成本。剩下的主要问题是快速串行接口(如PCI Express，Serial ATA，FibreChannel和Serial RapidIO)的全面测试。这些高速链路在计算、通信和音视频娱乐前进中是不可缺少的。
重视测试成本是一个重要的问题，设计人员已应用BI
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BIST DUT
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