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crc-32 文章 进入crc-32技术社区

以Talus Vortex和Talus Vortex FX解决32/28纳米IC

  • 前言目前的高端ASIC/ASSP/SoC器件开发商可考虑分为三大类：主流、早期采用者和技术领导者。在写这篇文章的时候，主流开发商正致力于65纳米技术节点设计，早期采用者开发商正专注于45/40纳米节点设计，而技术领导者开
  • 关键字： Vortex  Talus  32  28    

在小尺寸DSP上实现2D条形码解码

  • 条形码一般被用于将关键的字母数字信息转换为数字系统能够扫描和读取的符号信息，而无需每次都要将信息录...
  • 关键字： 2D条形码  DSP  CRC  解码  

CRC算法及工作原理

  • CRC算法及工作原理,　　CRC检验　　CRC校验实用程序库 在数据存储和数据通讯领域，为了保证数据的正确，就不得不采用检错的手段。在诸多检错手段中，CRC是最著名的一种。CRC的全称是循环冗余校验，其特点是:检错能力极强，开销小，易于
  • 关键字： 原理  工作  算法  CRC  

CRC标准及计算过程

  • CRC标准及计算过程,标准　　根据应用环境与习惯的不同，CRC又可分为以下几种标准：　　①CRC-12码;　　②CRC-16码;　　③CRC-CCITT码;　　④CRC-32码。　　CRC-12码通常用来传送6-bit字符串。　　CRC-16及CRC-CCITT码则是用来传送8-bit
  • 关键字： 过程  计算  标准  CRC  

CRC校验源码学习

  • CRC校验源码学习,CRC 根据”权”(即多项表达式)的不同而相应的源代码也有稍许不同。以下是各种常用的权。　　CRC8=X8+X5+X4+1　　CRC-CCITT=X16+X12+X5+1　　CRC16=X16+X15+X5+1　　CRC12=X12+X11+X3+X2+1　　CRC32=X32+X2
  • 关键字： 学习  源码  校验  CRC  

在Virtex-5 FPGA芯片中使用CRC硬模块

  • 数据损坏是与数据传输和存储有关的首要问题。只要是在通道上传输数据，就总会有出现某些错误的有限概率。...
  • 关键字： FPGA  Virtex  Xilinx  CRC  

基于GP32的直流电机控制器测试系统

  • 1．系统的整体设计本系统用于测试直流电机控制器的功能和性能。测试内容主要包括测试控制器的电流 值、速度值和PWM 输出的波形变化等。测试系统采集到这些值后，通过串口发送给PC 方 显示，能够方便用户监看、分析。
  • 关键字： GP  32  直流电机  控制器    

Semico研究认为2010年全球IC业将强劲增长

  • 　　Semico总裁Jim Feldhan在奥斯汀举行的ISMI讨论会上表示，明年半导体工业将有20%的高增长，因而设备制造商有望得到未来数年的好年景。 　　与在两天会议中部分经济学家认为未来5年全球经济将是暗淡的看法大相径庭，Jim Feldhan认为今年第四季度前景尚好，即使明年第一季是传统的淡季，也能有惊奇的增长。所以工业将呈现V型复苏，其中部分产品的市场相当抢眼。下图为部分终端电子产品的增长趋势;   　　Semico看到宽带、无线及社会网络将是未来IC消费的推动者。 　　如
  • 关键字： GlobalFoundries  15纳米  32  45纳米  

基于PIC32MX的液晶触摸屏人机界面设计

  • 介绍Microchip公司的32位单片机PIC32MX460F512L及其并行接口模块；基于该模块与所罗门公司的SSD1926芯片接口，设计了具有触摸和显示功能的5．7 in TFT彩色液晶触模屏；给出了控制策略、硬件接口电路和相关的程序流程，以及在喷水织机中的应用。实践证明，效果良好。
  • 关键字： PIC  32  MX  液晶触摸屏    

STM32F1 0x在应用中编程的实现方法

  • 对于基于闪存的嵌入式系统，一个重要的要求就是，当该系统安装在终端产品上后具有更新固件的能力，即在应用中编程(In－Application Programming，IAP)。本文介绍了STM32F10x处理器的特点及内存映射；详细论述了IAP功能的基本原理和IAP驱动流程；给出了在STM32F10x处理器中实现IAP功能的方法。
  • 关键字： STM  32F  32  F1    

TMS 32OF2812与DIP-IPM的通用电路设计

  • 结合三相电机的调速控制原理，对高速数字信号处理器(DSP)TMS320F2812和三菱智能功率模块DIP-IPM进行了详细的介绍，提出了完整的的通用变频电路设计方案。实验结果表明，该方法控制精度高，工作稳定，能够实现多种类型变频调速。
  • 关键字： DIP-IPM  2812  TMS  32    

Modbus RTU协议在MCF51QE128上的实现

突破性的 KLA-Tencor 技术--通过识别可印刷缺陷实现高等级光罩检测

  • 　　【加州圣何塞市 2008 年 4 月 24 日讯】KLA-Tencor 公司（纳斯达克股票代码：KLAC）今天推出其称为“晶片平面光罩检测” (Wafer Plane Inspection, WPI) 的最新光罩检测技术。该技术系业界首次在单一系统上提供既可查找光罩上的所有缺陷，又能显示只印刷在晶片上的缺陷的多功能性，堪称独一无二的光罩检测突破性技术。WPI不但征服了对优良率至关重要的 32 纳米光罩缺陷检测的挑战，它的运行速度也比先前的检测系统快达40%，从而有望缩短检测光罩
  • 关键字： KLA-Tencor   光罩检测  32 纳米  

如何用FPGA实现算法的硬件加速

价格因素是现在制约国内32位MCU发展的一方面,但是其高性能使得其发展趋势势不可挡

  • 　　1. What are the characteristics of China's MCU market? 　　 　　- 发展重点在消费电子和汽车领域 　　- 中国的MCU 市场对价格非常敏感，在选择MCU 时，客户考虑的是整个材料清单的成本，而非仅是MCU的成本。要产品取得成功，讨论MCU材料清单的优点是非常重要的。 　　- 大部分客户仍然不预计需要支付软件费用。使用许可或使用计费的软件模式在中国还没有普遍受落。 　　- 另一方面，客户要
  • 关键字： 32-bit MCU  爱特梅尔  
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