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SoC设计中结构测试仪的矢量生成原理

  • 深亚微米和纳米设计中出现了新的缺陷类型，单开发和使用功能性矢量已经无法满足对产品测试的实际需求。扫描、AC扫描、逻辑内建自测试(LBIST)和存储器BIST这类结构测试方法为理解设计规范、识别生产和设计中的缺陷、描绘和监控产品生产过程以及加速产品上市提供了一种更加有效的方法。
  • 关键字： SoC矢量  
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