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基于Atlas的MFIS结构器件电学性能模拟

  • 摘要 利用Atlas器件模拟软件，对MFIS结构器件的C—V特性及记忆窗口进行模拟。讨论了应用电压、绝缘层厚度及绝缘层材料等因素，对MFIS结构器件记忆能力及稳定性的影响，为MFIS结构器件的设计和性能提高提供了参考
  • 关键字： 电学  性能  模拟  器件  结构  Atlas  MFIS  基于  
共1条 1/1 1

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