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jtag技术嵌入式系统电路特性测 文章 进入jtag技术嵌入式系统电路特性测技术社区

满足嵌入式系统电路特性测试需求的JTAG技术

  • 引言IEEE1149.1边界扫描测试标准(通常称为JTAG、1149.1或dot1)是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法，大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1(JTAG)标准。为了更好地理解这...
  • 关键字： JTAG技术嵌入式系统电路特性测  
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jtag技术嵌入式系统电路特性测介绍

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