- JTAG(JointTestActionGroup，联合测试行动组)是一种国际标准测试协议(IEEE1149.1兼容)。标准的JTAG接口是4线——TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。JTAG的主要功能有两种，一类用于测试芯片的电气特性，检测芯片是否有问题，另一类用于Debug，对各类芯片以及其外围设备进行调试。本文介绍基于JTAG的调试器及接口设计，供大家参考。
基于Flash和JTAG接口的FPGA多配置系统
本文选用大容
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CPLD IEEE1149.1 CPU
- 根据混合信号边界扫描测试的工作机制，提出了符合1149．4标准的测试方法，并用本研究室开发的混合信号边界扫描测 ...
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IEEE1149．4 测试方法
- 边界扫描(IEEE1149.1)逐渐成为板级测试方法,新的开发使此技术吸引着嵌入式和系统级测试以及系统内编程操作的注意。随着边界扫描步入其第2个十年,新的使人兴奋的前景即将出现。
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测试测量 IEEE1149.1
- 最近出现的系统级接口器件，为设计人员把用于制造测试的边界扫描测试从板级扩展到系统级提供了灵活条件。
扩展到系统级的基础结构是提供单点接入到多扫描链，以支持隔离的诊断能力。这可以用于CPLD和FPGA系统内配置的最佳化，以及编程闪存时存储器读/写周期的最佳化。
它也支持板到板内连测试(用于背投内连失效诊断)到端口连接器引脚级。另一个优点是在产品装运前提供系统测试，这包括固件检验和简化固件更新。
扩展边界扫描到系统级提供执行嵌入式测试结构(即器件级BIST)的基础结构，这可在EPGA、A
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嵌入式 IEEE1149.1
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