- 失效率（或称基准失效率）指单位时间内的故障次数，其常用单位为故障数 / 十亿小时（FIT），即十亿小时内出现一次故障，该指标用于衡量产品在使用寿命内的故障概率。图 1 为电子元器件的可靠性浴盆曲线模型，该曲线分为三个阶段：早期失效（又称早期损耗失效）阶段、使用寿命（又称恒定失效 / 随机失效）阶段、耗损失效阶段。本文的讨论重点为元器件使用寿命阶段的失效率。1. 显示为可靠性浴缸曲线。了解电子系统中元件的失效率对于进行可靠性预测以评估整体系统可靠性至关重要。可靠性预测涉及指定可靠性模型、应假设的失效模式、诊
- 关键字：
失效率 集成电路 预测技术 Arrhenius HTOL SN 29500 IEC 62380
- _____随着技术的不断进步，新型功率器件如碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）因其优异的性能被广泛应用于各种电子设备中。然而，这些器件在长期连续使用后会出现老化现象，导致性能退化。如何在短时间内准确评估这些器件的老化特性，成为行业关注的焦点。目前，针对功率器件的老化测试主要包括多种不同的测试方式。其中，JEDEC制定的老化测试标准（如HTGB、HTRB、H3TRB和功率循环测试）主要针对传统的硅基功率器件。对于新型的SiC等功率器件，AQG-324标准进一步要求增加动态老化测试，如动态栅偏和动态反偏测试。
- 关键字：
功率器件 老化特性 HTOL 高温工况 老化测试
htol介绍
您好，目前还没有人创建词条htol!
欢迎您创建该词条，阐述对htol的理解，并与今后在此搜索htol的朋友们分享。
创建词条
关于我们 -
广告服务 -
企业会员服务 -
网站地图 -
联系我们 -
征稿 -
友情链接 -
手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案：1101082052 京公网安备11010802012473
