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电阻网络器件需要各种测量技术(二)

  • 双端电阻网络双端电阻网络器件的特性是每个电阻器都是由其他电阻器环路桥接的,形成了并行电流通路。从物理上断开环路是不可能的。利用一般的测试方法,大部分测试电流将会流过并行通路,产生的电阻读数要低于待测电
  • 关键字: 电阻网络  

以FPGA为基础的SoC验证平台 自动化电路仿真侦错功能

  • 随着系统芯片(SoC)设计的体积与复杂度持续升高,验证作业变成了瓶颈:占了整个SoC研发过程中70% 的时间。因此,任何能够降低验证成本并能更早实现验证sign-off的方法都是众人的注目焦点。台湾工业技术研究院 (工研院
  • 关键字: FPGA  SoC  基础  电路仿真    

电阻网络器件需要各种测量技术(一)

  • 以下种基本类型的电阻网络器件需要各种测量技术。隔离式与总线式电阻网络隔离式与总线式电阻网络的测试与单个电阻元件的测试比较相似。用户可以使用标准四线开氏连接方法消除引线电阻的影响。2400的检测电路具有>10
  • 关键字: 电阻网络  

PLD器件的设计步骤

  • 1.电路逻辑功能描述PLD器件的逻辑功能描述一般分为原理图描述和硬件描述语言描述,原理图描述是一种直观简便的方法,它可以将现有的小规模集成电路实现的功能直接用PLD器件来实现,而不必去将现有的电路用语言来描述
  • 关键字: PLD  器件  计步    

电阻网络测试系统配置中其它设置

  • 噪声在生产环境下,电子噪声是一个严重的问题。荧光灯、机械装置以及相当于天线的大面积金属物品,例如元件机械手和其它一些噪声源,都会在测量电路中感应出很低的电压。要想将这些噪声影响降至最低,所有的测量引线
  • 关键字: 电阻网络  

应对功耗挑战:晶体管技术方案面临瓶颈

  • 在电费占运营成本 (OPEX) 很大一部分,而运营成本则占总成本约 70% 的情况下,降低功耗对运营商来说已刻不容缓。以前,芯片提供商想办法通过晶体管和工艺技术来降低功耗。虽然晶体管是产生功耗的主要原因,但并非唯一
  • 关键字: 功耗  方案  晶体管技术  瓶颈    

分立电阻器检定测试系统的配置

  • 分立电阻器在最后的封装状态要进行单点通过/失败测试,这对确保产品符合制造商性能指标至关重要,而且可以在出货前识别劣质电阻器以及轻微不良的电阻器。通常要对电阻器进行两项测试:电阻器电压系数测试以及电阻器公
  • 关键字: 分立电阻器  

良好的焊接探头连接保证最大信号保真度

  • 我曾经一篇与LPDDR内存有关的文章中谈到了观测点精度对提供坚实的信号采集平台的重要意义。随着芯片设计的尺寸越来越小、时钟频率越来越高,牢牢把握上述原则对准确地进行物理层电接口验证和一致性测试变得越发重要
  • 关键字: 探头    信号保真  

利用双焊盘检测电阻优化高电流检测精度

  • 简介电流检测电阻有多种形状和尺寸可供选择,用于测量诸多汽车、功率控制和工业系统中的电流。使用极低值电阻(几mOmega;或以下)时,焊料的电阻将在检测元件电阻中占据很大比例,结果大幅增加测量误差。高精度应用通
  • 关键字: 焊盘    电流检测  

TSP-Link―TSP控制基础

  • 测试设置对于这项测试,仪表通过TSP-Link连接,2602型仪表作为控制主机。这种测试没有使用触发模式,只有一个逐行执行的测试脚本。在一个可以使用TSP-Link的系统中,一定要有一个仪表(连接到通信总线如GPIB或Ethern
  • 关键字: TSP  

如何应对GaN测量挑战

  • 功耗是当今电子设计以及测试中最热门也是竞争最激烈的领域之一。这是因为人们对高能效有强烈需求,希望能充分利用电池能量,帮助消减能源帐单,或者支持空间敏感或热量敏感型应用。在经过30年的发展之后,硅MOSFET发
  • 关键字: GaN    测试  

面向偏压温度不稳定性分析的即时VTH 测量(一)

  • 引言在微缩CMOS和精密模拟CMOS技术中对偏压温度不稳定性——负偏压温度不稳定性(NBTI)和正偏压温 度不稳定性(PBTI)——监测和控制的需求不断增加。 当前NBTI1 的JEDEC标准将“测量间歇期
  • 关键字: VTH  

何为4200-SCS集成ACS软件?

  • 直接将ACS安装至4200-SCS的嵌入式PC中能让功能强大 的ACS集成测试系统兼有两者优点。小尺寸但功能强大的 4200-SCS测量硬件结合了ACS软件的全自动化特性,能在极小的封装中实现令人印象深刻的测试功能和自动化。使用
  • 关键字: 4200-SCS    ACS  

用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试

  • CMOS集成电路(CMOS IC)和电池供电产品的制造商需要测量静态(或“待机”)电源电流用于验证生产测试质量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏电电流测量过程被称为IDDQ测试。此测试要求在IC处于静态条件下测
  • 关键字: 2600    数字源表    IDDQ  

稳定电源/负载电路的快速瞬态响应

  • 吉时利的2300系列电池/充电器仿真器(快速瞬态响应电源)专用于研发和制造环境中RFIC功放、手机及其它便携式电池供电产品的功率估计。这些电池仿真电源能从变化量高达1000%(即负载电流增大10倍)的短脉冲负载电流中快速
  • 关键字: 稳定电源    负载电路    瞬态响应  
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