- O 引 言Z扫描是一种应用于光学非线性测量的方法，使用这种方法可以测量光学材料非线性折射率的大小、正负以及非线性吸收系数。因为通过光学材料
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高速并行 D转换 高频 幅值
- 电子产品世界,为电子工程师提供全面的电子产品信息和行业解决方案,是电子工程师的技术中心和交流中心,是电子产品的市场中心,EEPW 20年的品牌历史,是电子工程师的网络家园
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ADSP2106X 高速并行 雷达 数字信号 处理系统
- 摘要：介绍一种基于四通道ADC的高速交错采样设计方法以及在FPGA平台上的实现。着重阐述四通道高速采样时钟的设计与实现、高速数据的同步接收以及采样数据的校正算法。实验及仿真结果表明，同步数据采集的结构设计和预
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FPGA 高速并行 采样技术
- 1 经典采样理论
模拟世界与数字世界相互转换的理论基础是抽样定理。抽样定理告诉我们，如果是带限的连续信号，且样本取得足够密(采样率ωs≥2ωM)，那么该信号就能唯一地由其样本值来表征，且能从这些样本值完
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时钟分配 高速并行 芯片 数据采集
- O 引 言
Z扫描是一种应用于光学非线性测量的方法，使用这种方法可以测量光学材料非线性折射率的大小、正负以及非线性吸收系数。因为通过光学材料的激光能量大小与光电接收器转换后获得的电压幅值成某种比例关系
- 关键字：
高速并行 D转换 高频 幅值
高速并行介绍
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