- ● 该解决方案可识别如导线下垂、近短路和杂散导线等细微缺陷,全面评估金线键合的完整性● 先进的电容测试方法能实现卓越的缺陷检测● 该测试平台准备好应对大批量生产,可同时测试20个集成电路,每小时产量高达72,000单位是德科技推出面向半导体制造的键合线(Wire Bonding)检测解决方案是德科技(Keysight Technologies, Inc.)推出电气结构测试仪(EST),这是一款用于半导体制造的键合线(Wire Bond
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是德科技 半导体制造 键合线 Wire Bonding
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