- :EL检测仪，又称太阳能组件电致发光缺陷检测仪，是跟据硅材料的电致发光原理对组件进行缺陷检测及生产工艺监控的专用测试设备。给晶体硅电池组件正向通入1-1.5倍Isc的电流后硅片会发出1000-1100nm的红外光，测试仪下
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- 一、 序言LED 照明产业发展到现在,我们对LED 照明产品标准和检测方法的回顾、小结的时候已经基本到来。传统的 LED 及其模块光、色、电参数检测方法有电脉冲驱动,CCD 快速光谱测量法,也有在一定的条件下,热平衡后的测
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- 前言 汽车电子市场是继电脑、通讯之后PCB的第三大应用领域。随着汽车从传统意义上的机械产品，逐步演化、发展成为智能化、信息化、机电一体化的高技术产品，电子技术在汽车上的应用已十分广泛，无论是发动机系统
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- DLP拼接大屏作为大屏拼接领域的主力军，一直被广泛应用于多个领域。而且，随着技术的日渐完善以及人们大屏幕视觉需求的火热，其应用范围更加宽泛，应用环境也更加广泛，随着而来的选购维护问题也更加复杂。其实大屏作
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- 针对产品的缺陷，三相多功能电能表解决方案诞生,背景电能表是用来测量电能的仪表，又称电度表，火表，电能表，千瓦小时表，指测量各种电学量的仪表。目前国内的电能表设计已经走过了由8位MCU向通用DSP甚至专用DSP的变革，通用DSP的应用方案的劣势在于DSP的专业应用
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- 摘要 基于第一性原理计算方法，通过密度泛函理论(DFT)和广义梯度近似(GGA)对本征及含有缺陷的石墨烯超晶胞进行了电子结构的计算，研究了多种缺陷对石墨烯电子结构的影响。研究发现，多种缺陷均使石墨烯能带在费米能级
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- 查找嵌入式软件设计中的缺陷的方法,本文将介绍如何避免那些隐蔽然而常见的错误，并介绍的几个技巧帮助工程师发现软件中隐藏的错误。大部分软件开发项目依靠结合代码检查、结构测试和功能测试来识别软件缺陷。尽管这些传统技术非常重要，而且能发现大多
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- 摘要：LED(Light-emitting diode)由于寿命长、能耗低等优点被广泛地应用于指示、显示等领域。可靠性、稳定性及高出光率是LED取代现有照明光源必须考虑的因素。
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- 摘要：传统的光纤端面缺陷检测用的是人工检测方式，这种检测方式效率很低，检测结果的主观性很强。对光纤端面缺陷使用机器视觉检测，能极大地提高检测效率和检测准确性。首先将采集到的图像通过图像处理二值化，接着
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- 1、前言 在现代电子产品世界中，PCB(印刷电路板)是组成电子产品的重要环节，很难想象在一台电子设备中有不采用PCB的，所以PCB的质量如何将对电子产品能否长期正常可靠工作带来非常大的影响。提高 PCB的质量是电子
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PCB 视觉系统 防止 缺陷
- 针对OLED显示屏的自动化缺陷检测问题，提出了一种新的检测方法。首先，基于显示屏的原图像，提取其骨架信息，进行分块处理后快速地与模板图像配准，通过差影法实现斑痕缺陷的初次提取。然后通过大津法确定图像的阈值，将图像分割并进行差影操作后，实现斑痕缺陷的检测；最后，通过列举的实例，验证了本方法的有效性。
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- 现在LED晶片厂商在制作LED蓝色芯片工艺大致分四种：1.蓝宝石衬底GaN基质LED这是大多数晶片厂商常用...
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蓝色发光二极管 晶片制备技术 缺陷
- 查找嵌入式C语言程序/软件中的缺陷的多种技术,基于模式的静态代码分析、运行时内存监测、单元测试以及数据流分析等软件验证技术是查找嵌入式C语言程序/软件缺陷行之有效的方法。上述技术中的每一种都能查找出某一类特定的错误。即便如此，如果用户仅采用上述技术
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- 一、前言
在线路板的制作过程中，多数厂家因考虑成本因素仍采用湿膜工艺成像，从而会造成图形电镀纯锡时难免出现“渗镀、亮边(锡薄)”等不良问题的困扰，鉴于此，本人将多年总结出的镀纯锡工艺
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- 嵌入式软件技术的缺陷查找方法, 本文将介绍如何避免那些隐蔽然而常见的错误，并介绍的几个技巧帮助工程师发现软件中隐藏的错误。大部分软件开发项目依靠结合代码检查、结构测试和功能测试来识别软件缺陷。尽管这些传统技术非常重要，而且能发现
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