- / 前言 /功率半导体热设计是实现IGBT、碳化硅SiC高功率密度的基础,只有掌握功率半导体的热设计基础知识,才能完成精确热设计,提高功率器件的利用率,降低系统成本,并保证系统的可靠性。功率器件热设计基础系列文章会比较系统地讲解热设计基础知识,相关标准和工程测量方法。确定热阻抗曲线测量原理——R th /Z th 基础:IEC 60747-9即GB/T 29332半导体器件分立器件第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)(等同采用)中描述了测量的基本原理。确定热阻抗的
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英飞凌 功率器件,瞬态热测量
瞬态热测量介绍
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