为全球集成元件制造商(IDM)和最终测试分包商，提供设计和制造最终测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest，日前宣布其MT9928 xm高度模块化重力式分选机的第1,800套转换套件已于近日出厂。这彰显了MT9928xm在市场上的广泛应用以及出色的认可度。设备运行的IC封装类型从SO、TO到QFN和DIL/DIP，更换整个套件所需时间也不到一小时。
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Multitest 测试 MT9928 xm
安捷伦科技(中国)有限公司于3月27日在上海锦江饭店成功举办“2012安捷伦测量测试大会”。本次大会着眼于热门行业应用和尖端科技成果展示。“发现真知始于测量(Discovery Begins with Measurement)”的主题贯穿整个活动现场。全天的会议报告包括上午的主题发言和下午的“无线通信”、“射频微波”、“通用测试”三个分论坛，共计15场报告。不同于往年的安捷伦测试大会，除了主会场之外，安捷伦在本次大会设立了更多主题鲜明的互动区域和环节——热门应用详解及用户体验中心。来自无线通信、微波与射频
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安捷伦 测试
安捷伦科技最新推出的MXA系列信号分析仪(图1)，集传统的扫频式频谱仪和矢量信号分析仪的功能于一身。MXA系列的市场定位是中档信号分析仪，目前提供4种频段的产品，都是从20Hz开始，分别到3.6 GHz、8.4 GHz、13.6 GHz
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数字调制信号 测试 调试技术
本文首先介绍了Ad Hoc网络及其相关协议的主要特点，根据网络特性提出了性能测试的体系结构。围绕体系结构中的不同测试内容，提出相关的测试方法，并详细讨论了网络性能的评估手段和测试环境的设计。随着现代通信技术
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Hoc Ad 网络性能 测试
宽带蜂窝数据业务市场正在迅速变化。仅仅在几年前，UMTS技术仍处在早期部署阶段，能够利用提高带宽的业务少之又少，而能够支持这些业务的手机数量就更少。现在，UMTS终于慢慢成为主流技术，相应的中等价位的手机已经
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HSDPA HSUPA 测试 分析
摘要：提出一种测试UHF频段无源RFID标签芯片灵敏度的方法。该方法依据矢量网络分析仪和标签测试仪接口特性阻抗相同的特性，利用矢量网络分析仪测试标签芯片的反射系数，然后通过标签测试仪测试芯片和仪器接口的匹配损
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测试 方法研究 灵敏度 芯片 RFID 标签 无源
本文分析了大功率LED光源热的产生、传导，依据热阻基本公式推导出比较完整的热阻计算公式和测试方法，并讨论了计算、测试热阻对大功率LED封装设计的实践意义和应用产品的热量处理。
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方法 测试 介绍 计算 LED 光源 大功率
影响电阻或电阻率测试的主要因素有： a.环境温湿度 一般材料的电阻值随环境温湿度的升高而减小。相对而言，表面电阻(率)对环境湿度比较敏感，而体电阻(率)则对温度较为敏感。湿度增加，表面泄漏增大，体电导电
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电阻 测试 电阻率 分析
随着现代科技的高速发展，人们对通信的需求日益增强，无线通信网络无疑是通信事业中发展最快的，但是也引来一个有争议的问题，无线网络的电磁辐射有多大，是否对人有伤害?本文旨在从专业角度客观地对无线网络的电磁辐
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定量分析 及其 测试 效应 辐射 通信网络 电磁 无线
TD-SCDMA即Time Division-Synchronous Code Division Multiple Access(时分同步的码分多址技术)，是中国提出的第三代移动通信标准。 1、 TD-SCDMA 射频辐射功率测量
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测试 介绍 OTA 性能 空间 辐射 TD-SCDMA
高精度ADC的采样率不高，测试关键是要有高精度的信号源。而高速ADC测试是一项更具挑战性的工作，其中采样时钟的Jitter和高速数字接口是两个必须面对的难题。
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高速AD 测试
TD-SCDMA系统是一种新型的第三代移动通信网络系统，它在提供了高质量的语音业务的同时，提供高达2Mbps速率的分组数据业务及其它多媒体业务。目前，TD-SCDMA正在全球部署，在TD-SCDMA系统的产业化过程中，包含有TD-SC
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TD-SCDMA 3G网络 测试 保障
摘要介绍了GSM上层协议中各个层的主要功能和GSM射频指标的测试方法，包括发射机相位误差和频率误差测试，发射机载波峰值功率与突发脉冲定时测试，接收机参考灵敏度测试。关键词GSM上层协议发射机测试 接收机测试1、
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GSM 协议 测试 中的应用
当前，日益恶化的电磁环境，使我们逐渐关注设备的工作环境，日益关注电磁环境对电子设备的影响，从设计开始，融入电磁兼容设计，使电子设备更可靠的工作。电磁兼容设计主要包含浪涌（冲击）抗扰度、振铃波浪涌抗扰度
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EMC 电磁兼容 测试
在数字电路设计和调试中，对设计单元电路的性能进行实时测试是必不可少的环节。很多情况下，需要通过计算机的比较和分析，来测试设计的电路的性能是否达到要求。这就需要设计一个测试接口板，将计算机产生的测试数据
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接口 实现 测试 信号 单片机 高速 基于
多路输入多路输出(mimo)测试介绍
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