吉时利仪器公司，作为先进电性测试仪器与系统的行业领导者，在数字多用表(DMM)领域具有悠久的历史，最近又推出一款经济实用的新产品。2110型5位半双显示数字多用表(DMM)为多种通用功能和台式应用而优化。
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吉时利 数字多用表 USB
先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司今日发布2657A高功率数字源表。2657A为吉时利2600A系列高速、精密源测量单元数字源表系列产品增加了高电压功能。此系列仪器能帮助吉时利客户分析范围更宽的功率半导体器件和材料。2657A内建3,000V、180W源，支持以极低的成本向被测器件输出5倍于最接近竞争系统的功率，并且，构建至2657A的精密、高速6位半测量引擎的1fA（飞安）电流测量分辨率满足了下一代功率半导体器件的低漏电要求。
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吉时利 数字源表 2657A
日前，北京东方中科集成科技股份有限公司(以下简称“东方集成” )与世界著名仪器制造商--吉时利仪器公司(以下简称“吉时利” )签订行业渠道经销合作协议，正式成为吉时利在数字多用表、数字源表、数据采集、微弱信号等产品的战略合作伙伴。
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吉时利 测试
吉时利仪器公司日前发布了专为低电压测试而优化的低成本方案，扩展了其广受工程师赞誉的2400系列数字源表产品线。与所有吉时利SMU(源测量单元)仪器一样，新推出的2401型数字源表对光伏(太阳能)电池、高亮度LED(HBLED)、低压材料和半导体器件的电流与电压(I-V)特性分析以及电阻测量等高精度测试应用进行了优化，并且，2401以前所未有的低价在20V和1A信号幅度上提供了源和测量单元的先进功能。
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吉时利 数字源表
美国俄亥俄州克利夫兰，2011年9月19日讯–先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司发布了获得业界好评的吉时利测试环境（KTE）半导体测试软件的升级版。KTE V5.3是专为配合吉时利迄今为止最快、最经济有效的过程控制监控方案产品线S530参数测试系统设计的。
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吉时利 测试 KTE5.3
美国俄亥俄州克利夫兰，2011年9月19日讯–先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司今天发布了五款新的通用可编程直流电源，以补充吉时利用于组件、模块、器件特性分析和测试应用的现有专业电源产品线及源测量仪器组。最新发布的型号2200系列电源产品线以经济有效的价格、灵活的操作、功能结合卓越的电压和电流输出准确度，提升了各种器件特性分析和测试应用的易用性。
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吉时利 测试 2200系列
美国俄亥俄州克利夫兰，2011年9月19日讯–先进电气测试仪器与系统的世界级领导者吉时利仪器公司今天发布了专为低电压测试而优化的低成本方案，扩展了其广受工程师赞誉的2400系列数字源表产品线。与所有吉时利SMU（源测量单元）仪器一样，新推出的2401型数字源表对光伏（太阳能）电池、高亮度LED（HBLED）、低压材料和半导体器件的电流与电压（I-V）特性分析以及电阻测量等高精度测试应用进行了优化，并且，2401以前所未有的低价在20V和1A信号幅度上提供了源和测量单元的先进功能。
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吉时利 测试仪器
吉时利仪器公司发布了获得业界好评的吉时利测试环境(KTE)半导体测试软件的升级版。KTEV5.3是专为配合吉时利迄今为止最快、最经济有效的过程控制监控方案产品线S530参数测试系统设计的。
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吉时利 测试 KTEV5.3
I分析系统优化小电流测量- 引言
许多关键应用都需要能够测量小电流的能力——比如pA级或更小。这些应用包括确定FET的栅极漏流、测试敏感的纳米电子器件，以及测量绝缘体或电容的漏流。
4200-SCS型半导体特性分析系统配备可选的4200-PA型远程前置放大器时，可提供非常卓越的小电流测量能力，分辨率达1E–16A。成功测量小电流不仅依赖于使用非常灵敏的安培计，例如4200-SCS型，而
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吉时利 电流测量 4200-SCS
6月1日，总部位于美国华盛顿特区的科技公司丹纳赫日前宣布其旗下从事测试与测量的三家子公司---泰克、福禄克和吉时利加入越南的“高等工程教育联盟计划” (HEEAP)，共同捐赠了价值 30 万美元的实验室测试设备和用于教员培训的现金奖励。该目标旨在为学习制造、研究以及开发应用领域的电子工程专业学生提供电气和电子测试、测量设备，从而让他们掌握更多的实践、操作经验。泰克、福禄克和吉时利公司都是测试和测量行业的全球领先公司，具有
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泰克 示波器 测试设备 福禄克 吉时利
Part v
这部分包含许多脚本例子说明吉时利支持脚本的仪器的一些特点。图1示出了两台吉时利系统源表如何使用单脚本控制产生3相交流波形。在这个例子中，使用吉时利的TSP-Link技术连接这两台仪器，因而很容易用脚本控制这两台仪器。
图2说明了基于LXI Class B技术的定时器如何控制脚本工作。在此脚本中，吉时利3706型LXI Class B仪器使用基于IEEE 1
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吉时利 LXI 脚本
解决问题：脉冲I-V测试 ——纳米测试小技巧
在对纳米器件进行电流-电压(I-V)脉冲特征分析时通常需要测量非常小的电压或电流，因为其中需要分别加载很小的电流或电压去控制功耗或者减少焦耳热效应。这里，低电平测量技术不仅对于器件的I-V特征分析而且对于高电导率材料的电阻测量都非常重要。利于研究人员和电子行业测试工程师而言，这一功耗限制对当前的器件与材料以及今后器件的特征分析提出了巨大的挑战。
与微米级元件与材料的I-V曲线生成不同的是，对纳米材料与器件的测量需要特殊的
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吉时利 纳米测试 脉冲I-V测试
吉时利(keithley)介绍
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