摘要:本文介绍光纤接续损耗产生的原因,光纤接续损耗测试的原理以及几种测试方法的应用和计算,较为系统的阐述了光纤接续损耗测试的科学方法。 光纤接续损耗是光纤通信系统性能指标中的一项重要参数,损耗值的大小直接影响到光传输系统的整体传输质量,在光缆施工和维护测试中,运用科学的测试分析方法,对提高整个光缆接续施工质量和维护工作极其重要,尤其是进一步研究光通信中长波长的单模光纤的通信性能、传输衰耗、测量精度和检查维修等方面有一定现实意义。 一、 光纤接续损耗分析 1、 光
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摘 要:介绍使用普通数字万用表的直流电压档在线测量电容和扩展电容测量范围所使用的技术。 关键词: 通用的三位半或四位半数字万用表都设有电容测量功能,但测量范围较窄及测量的准确度较低,而且一般没有在线测量功能。本文讨论如何扩展这些功能。 1 在线测量电容 根据微分积分电路性质,可将电容的测量转换成电压测量。测量原理和转换电路图如图1。 电路的核心部分CX/V采用简单的有源RC反相微分和积分电路。文氏振荡器产生一固定频率的交流信号Vr,它激励CX/V转换电路,得到一
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数字鉴频器(DFD)可为大范围的瞬时RF脉冲或连续波信号提供精确的频率测量数据。典型地它们覆盖宽广的带宽,如50到500MHz、0.5到2GHz、2到6GHz、6到18GHz,以及2到18GHz,但很少超过18GHz。实现18GHz以上DFD的一个主要限制因素是额外的相关器相位噪声。下面将回顾基本的DFD性能和限制,并介绍将可用性扩大到18GHz以上的设计。 图1显示了不同形式的DFD,取决于应用和性能需求。DFD是时更加复杂系统的基本构造单元,例如瞬时测频系统(IFM)接收机,其中还包含了门限电路、RF
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USB是PC机的标准外设接口,拥有数以十亿计的安装量。自1998年出现USB数据采集仪器以来,数字示波器等多种多样微型USB仪器推出市场,形成具有自身特色的仪器族,开始进入测量仪器主流。 0、引言 1993年英特尔公司的第五代微处理器奔腾问世,它使用的PCI总线达到32位,时钟33MHz,带宽达到132MB/s~264MB/s。
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华邦电子(Winbond)日前推出支持SST(Simple Serial Transport)数据传输接口,并且同时采用差动温度量测架构(current mode)的温度传感器IC——W83772G。 W83772G是目前市面上少数针对SST传输架构所量身订作的温度传感器,不仅符合SST架构规范,本身即为一个灵敏的温度传感器,另外再搭配一组远程温度传感器,总
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首次提出并深入分析研究了一类全数字化技术、与电网电压n倍频或n分频信号同步的基准正弦电路,并给出了关键电路参数设计准则与试验结果,试验结果与理论分析一致。该基准正弦电路具有输出正弦电压与电网电压n倍频或n分频信号同步、FHD小、幅值可调但不受电网电压波动的影响、简单实用、价格低廉等优点,在高频交流环节AC/AC变频变换系统和UPS中具有重要应用价值。
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虽然业内预计电子产品供应渠道中过剩的半导体存货在第二季度结束的时候将达到13亿美元,比第一季度增加11%,但是市场研究公司iSuppli公司相信这部分过剩的存货还不足以提高警报的等级。 ISuppli公司称,目前的存货数量仍在预期的范围和可控制范围之内。目前的过剩存货的增长似乎仅限于电脑供应渠道。 预计第三季度的过剩存货不会发生较大幅度的增长。 当2006年第二季度结束的时候,尽管存货数量有所
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半导体
6月25日消息,据中国台湾媒体报道,台积电全球营销副总裁Kenneth Kin日前表示,在未来5-10年内,全球半导体市场仍将保持适度增长态势。 据中国台湾媒体digitimes报道,Kenneth Kin称,目前半导体市场的增长势头将一直持续到2015年。但在该期间内,半导体市场不会出现“杀手级”应用。因此,不要指望半导体市场会出现大幅度增长。 Kin说,当前,半导体市场正处在协同阶段,在一些成熟市
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半导体
在工业数字控制仪表领域,一般涉及三个基本功能模块:对来自传感器的模拟信号进行A/D转换的功能模块,对A/D转换的数据以事先标定的量程进行显示驱动,根据已获得的测量数字信号向执行机构发出控制信号以实现闭环控制。对于许多家用电器来说,上述过程是相同的。 目前,在上述领域大多数的设计方案是由单片机+A/D转换+外围支持电路来构成的。尽管现在单片机价格并不高,但为了实现上述目标,仍需加上各种外围支持电路,这
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目前通信市场规模正以较高的速率扩大。通信市场的扩大刺激了对通信测试仪器 的需求。用户要求进一步提高通信服务质量,使得通信业务运营商扩大了测试仪 器的投资。同时,业务运营商要求通信设备生产商提供可靠、高效的通信设备, 使得通信设备生产商也扩大了在通信测试仪器方面的投资。据美国Frost & Sull ivan市场研究公司的统计,目前,全球通信测试仪器一年的销售值已达50亿美元 ,并正在以两位数的增速增长。 迅速
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多端口和平衡器件数量的上升使RF/微波测试变得复杂。因为对平衡(微分)器件和多端口设备进行测试需要多个测试通道,传统的四端口矢量分析仪(VNA)要花双倍于八端口矢量网络分析仪的时间才能完成对这些器件的测试。 一个提高测试速度的方法是增加的测试通道,这也是ZVT 8的设计指导思想。ZVT 8为Rohde & Schwarz提供的业内第一代八端口矢量分析仪VNA,其频率范围为30
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虚拟仪器入门免费培训讲座
1.虚拟仪器技术的概念、特点及发展方向;
2.虚拟仪器组成结构、硬件软件开发平台,内容涵盖LabVIEW、LabWindows/CVI、Measurement Studio、M系列数据采集设备、DAQmx、模块化仪器、信号调理、PXI总线平台等。 3.利用若干应用演示让您了解如何运用合适的硬件模块并在LabVIEW环境中开发自己的应用。 4.通过泛华系统集成项目的案例介绍,帮助您更容易的构建适合自己的自动化高效测试平台。 La
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引言 随着列车运行速度的提升,铁道部规划在未来的列车运行中将逐步取消地面信号机而只使用车上信号系统的重大体制改革,即机车信号系统将是司机操作列车运行的唯一信号引导,而轨道感应电压值的大小直接影响机车信号的正常,所以在对机车信号运行参数的监测中,对轨道感应电压的监测是其中一个很重要的部分。 &n
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随着电子信息产业的发展,与其密切相关的软磁材料及其性能测量引起了人们的高度重视。软磁材料绝大多数都用作工作在动态磁化条件下的磁性器件[1],如开关电源变压器磁芯、回扫变压器磁芯、滤波器磁芯等。磁性产品性能的好坏主要取决于作为导磁材料的磁心的性能[2]。因此设计者迫切需要知道软磁材料在实际应用条件下的磁性能。而磁滞回线包含了体现磁材料性能的参数,如矫顽力、剩磁等,有了这些参数才能进行最佳的设计。由于交流磁滞回线的形状受多种因
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2006-06-08 点击:15 近日,美国理想工业公司最新推出SIGNALTEKTM线缆性能测试仪,旨在提供一种有效保护投资,且有效评测1000M(含10/100M)以太网性能的解决方案,使用户准确量化掌握最新一代以太网技术应用所需链路指标。 采用革命性技术的SIGNALTEKTM可协助综合布线施工及网络维护人员,对语音、数据、视频线缆及VoIP等应用的性能予以测试并生成书面报告。通过向线路发送以太网数据包,同时依据IE
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半导体测试系统介绍
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欢迎您创建该词条,阐述对半导体测试系统的理解,并与今后在此搜索半导体测试系统的朋友们分享。
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