- 短短几年间，移动数据业务就已从开始时的缓慢不堪以致没法实用，发展到现今如像Windash;Fi一样好用。随着消费者和商业应用开发者急于找到能利用改进的移动数据服务所需的方法，技术专家也在努力提供更新、更快、更强
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系统 方法 介绍 LTE 测试 仿真器 全面 信道
- 摘要：为了抑制MAI和远近效应以提高系统的性能，采用多级型多用户检测技术，充分利用各个用户的扩频序列时延幅度和相位信息时各用户进行联合检测，利用前级判决的信息构造所有用户的干扰信号，然后从接收信号抵消掉干
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用户 检测技术 多级 系统 PIC MC-CDMA 基于
- 摘要：为了有效提高系统的抗干扰能力，在已有软扩频的基础上，提出了一种新的双软扩频与pi;／4DPSK复合调制系统，即发送端数据经过串并转换后，选取两组正交码扩频并与pi;／4DPSK调制信号复合后调制载波，接收端下
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系统 建模 仿真 调制 复合 扩频 4DPSK 双软
- 摘要：利用ARM芯片STM32F103RET6设计了曼彻斯特电压／电流编译码系统。该系统简单易行，成本低，传输速率可调范围广，编码速率可达1 Mb／s。当编码协议发生变化，只需对编码和译码算法做少量的修改，具有很强的灵活性
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设计 系统 编译 曼彻斯特 STM32
- 摘要：基于PIC单片机的温湿度感测系统，以PIC单片机为核心，由温湿度传感器SHTll、162液晶显示等模块组成。首先SHTll对环境的温度和相对湿度进行检测，通过二线串行接口将数字温湿度信号送至PIC微控制器，最后利用微
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实现 系统 温湿度 单片机 基于
- 1 LTE系统标准演进
随着宽带无线接入的出现，接入移动化、宽带化的业务需求越来越旺盛，用户对移动通信网络的速率要求也越来越高，可见高速率宽带接入服务是未来移动通信系统的基本需求。IMT-Advanced系统需求明确
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LTE 系统 分析
- 摘要：为满足计算机专业教学和测控仪器开发的需要，设计了基于网络、虚拟仪器和SOPC技术的网络化虚拟测控系统。该系统由PCI接口卡、基于NiosII软核的SOPC数据采集系统组成，使用Labview技术构建了C／S模式的远程数据
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网络 虚拟测控 系统
- 1工作原理变频调速恒压供水与水塔或楼顶的高位水箱供水相比，具有投资省、节约能源、水质遭二次污染的机会少等优点，越来越多的城市和生活小区已经或正打算采用变频调速恒压供水。变频调速恒压供水系统构成如图1。其
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应用 系统 供水 变频调速 单片机
- 1 引 言近年来，微机测控系统，特别是单片机在工业自动化生产过程控制、智能化仪器仪表等领域的应用越来越深入和广泛，有效地提高了生产效率，大大提高了控制质量与经济效益。但是，测控系统的工作环境往往是比较恶劣
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技术 抗干扰 系统 单片机
- 摘要：为了满足自适应光学系统中多路压电陶瓷高压驱动器输出电压实时监测、显示的需要，提出了基于高速单片机C8051F120的电压测量、显示和通讯系统设计方案。利用20路电压测量模块实现电压采集，通过ModBus RTU通讯协
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监测 系统 设计 实时 电压 陶瓷 驱动器 压电
- 基于ARM的嵌入式电能计量系统设计,摘要：针对高校学生宿舍电能计量控制系统不方便学生实时查询的状况,分析了网络电能计量集采控制系统的系统结构,以ARM芯片和Linux操作系统为基础设计了嵌入式电能数据采集终端及Web服务器,采用该嵌入式电能计量系统能
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系统 设计 计量 电能 ARM 嵌入式 基于
- 嵌入式系统智能键盘的软件设计,引言键盘是智能化测控系统主要的信息输入方式，是实现人机对话的重要途径，因此如何有效地控制键盘并为系统服务是每个设计者需要切实考虑的问题。嵌入式系统键盘软件设计存在3方面问题：软件去抖动、等待按键抬起和连
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软件 设计 键盘 智能 系统 嵌入式
- 基于S3C44B0X和μC/OS-Ⅱ智能家居嵌入式系统设计,随着社会经济的飞速发展及计算机控制技术等科技的进步，人们对自身的生活和工作环境有了更高的要求，由此对家居智能化控制系统的要求也越来越紧迫。设计家居智能化控制系统，对促进住宅现代化建设具有重要意义。家居
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系统 设计 嵌入式 智能家居 S3C44B0X C/OS- 基于
- 基于ARM的嵌入式监测系统设计,摘要：设计了一种利用ARM微处理器进行设备状态监测的方案，并对方案的设计实现方法作了具体的论述，利用图形界面开发环境Qt/Embedded 2.3.7 编写了图形控制界面，并通过网络进行实时数据传输。ARM具备体积小、接口丰
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系统 设计 监测 嵌入式 ARM 基于
- 基于嵌入式实时系统设计模式的研究与应用,摘要：为满足嵌入式实时系统快速适应硬件型号升级、快速变更要求以及可伸缩、可修改、可复用等方面的需求，本文提出了一种适用于嵌入式实时系统的设计模式--ERTSDP，解决了系统分析设计中实时性、可靠性等方面的问题
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研究 应用 设计模式 系统 嵌入式 实时 基于
半导体测试系统介绍
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