一文为您介绍电磁兼容（emc）测试 文章
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- 摘要：以单片机89C51和可编程逻辑器件(FPGA)为控制中心，设计了一个频率特性测试仪，用于测试某一特定网络的频率响应特性。本系统的主要特点是由FPGA驱动多种串行芯片，在精简了系统电路结构的同时也不影响程序的效率
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频率特性 测试 仪的设计
- 本文将以没有复杂数学运算的直觉方式，探讨成功实现开关稳压器的基本因素，主要包括：斜率(slew rate)控制、滤波器设计、元件选用、配置、噪声扩散及屏蔽。
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EMC 兼容 汽车开关 稳压器
- 摘要：利用单片机具有的智能程序控制的特点，设计了基于STC89C52单片机的“二极管特性测试器”，可对二极管一般特性进行快速测试。通过稳定线性电流源给二极管加载恒定电流，然后由高精度模数转换器测试其
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测试 设计 特性 二极管 89C52 基于
- 来自于日光的电能是真正“绿色”和廉价的能源，但是需要基于光伏（PV）电池和存储设备（例如电池）的能量转换系统。PV或太阳能电池在户外照明领域，甚至在全家用和工业领域的应用越来越广泛；它们可以采用与半导体器件制造相同的工艺进行制作。太阳能电池的功能非常简单：吸收太阳光的光子并释放出电子。当在太阳能电池上连接负载时，就会产生电流。
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能量转换 测试
- 业界首个融合电子商务与在线社区，并服务于全球数百万工程师和专业采购人员的e络盟母公司element14今天宣布，为了向亚太地区客户提供更为全面的解决方案，公司已与示波器、协议分析仪和相关测试及解决方案方面的全球领先供应商LeCroy(力科)公司结成新的合作伙伴关系。
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element14 测试
- 7100数字射频测试仪采用 Aeroflex 经过验证的 RF 和基带技术，具有支持LTE 终端设备RF参数和协议测试的独特功能。7100测试仪可从物理层到核心网络IP基础设施进行全面网络模拟，以小型台面测试仪为LTE移动设备提供完整的测试系统。
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衰落 测试 方案 信道 射频 LTE 手机 解决
- 摘要：介绍基于LabVIEW的虚拟重力仪的设计，它是由数据采集卡采集外部信号，通过软件编程实现仪器的显示及测量等功能。该虚拟重力仪主要由数据采集、数字滤波、参数测量、频谱分析、功率谱分析和波形存储及读取模块组
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LabVIEW 重力 仿真 测试
- 随着电气电子技术的发展，家用电器产品日益普及和电子化，广播电视、邮电通讯和计算机及其网络的日益发达，电磁环境日益复杂和恶化，使我们逐渐关注设备的工作环境，日益关注电磁环境对电子设备的影响，电气电子产品的电磁干扰(EMI)和电磁兼容性(EMC)的问题越来越受到工程师和生产企业的重视。
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经验 分享 设计 解决方案 综合 EMC/EMI
- 随着主流市场即将演进到SuperSpeed USB，许多设计团队正力图加快设计认证。本文将为您提供专家建议参考，帮助您轻松完成这一过程。 尽管市场上已经出现了早期的USB 3.0产品，但主流市场转向Super
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USB 3.0 测试 方案
- 电子产品世界,为电子工程师提供全面的电子产品信息和行业解决方案,是电子工程师的技术中心和交流中心,是电子产品的市场中心,EEPW 20年的品牌历史,是电子工程师的网络家园
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测试 安捷伦 MIPI M-PHY
- 随着近几年的动力电池的飞速发展，无论是生产工艺还是材料技术改进上，或价格的优势，都有相当大的突破，因此它也为多并多串打下坚实的基础。而随着市场的不断发展，现在动力电池的应用领域也越来越广泛，如电动自行
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费思 大功率 保护板 测试
- 一、开关电源工作原理1、开关电源是一种高频开关式的能量变换电子电路，常作为设备的电源供应器，常见变换分类...
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开关电源 测试
- 1 引言 近年来，LED 光源光源 光源产品具有LED显示、体积小、重量轻、易携带、电池供电、性能价格比高等特点，直观快速，是一种使用极其简单方便的测试工具，产品经过防震防潮处理，可以在野外恶劣环境下长时间
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误差 分析 测试 特性 路灯 LED
- 面向世界各地集成设备制造商(IDM)和最终测试分包商，设计和制造测试分选机、测试座、测试负载板的领先厂商Multitest公司，日前欣然宣布其从亚洲一家重要测试代工厂又收到一份订单，订购产品是其独一无二的InCarrier®测试设备。InCarrier®优于标准单粒器件测试和其他高并行数测试方法。
该客户选定了一种综合解决方案，包括InCarrier上下料机、InStrip以及适于加速仪MEMS测试的InMEMS组件。
与标准单粒器件测试和既有高并行数测试相比，InCarr
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Multitest 测试
- 时延测试与数据处理,了分析频率相对时延的真实特性，利用数字式电离层斜向探测系统同时对三条短波路径进行了一天连续测试[8]，三条路径分别为：新乡至青岛580 km，测试时间间隔1h；新乡至重庆940 km，测试时间间隔2 h；新乡至广州1 380
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数据处理 测试 时延
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