首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> 内装

内装 文章 进入内装技术社区

基于内装测试(BIT)技术的装备控制系统故障诊断

  • 引言  内装测试(BIT)是20世纪70年代美国在军用测试领域提出的全新的技术概念,其目的在于改善装备的维修性、测试性和自诊断能力,同时也使装备系统的机动性和保障性得到很大改善。20世纪70年代以来,以航天航空等国
  • 关键字: BIT  内装  测试  故障诊断    
共1条 1/1 1

内装介绍

您好,目前还没有人创建词条内装!
欢迎您创建该词条,阐述对内装的理解,并与今后在此搜索内装的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473