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10张图,看未来十年逻辑电路将走向何方

  • 到 2034 年高密度逻辑晶体管密度将从今天的 283MTx/mm2增加到 757MTx/mm2。
  • 关键字: CFET  

这项源自北大 20 年前提出的技术,国际巨头竞相追逐

  • 随着代工厂开发越来越先进的工艺节点以满足消费者的需求,当今先进处理器上的晶体管数量达到数百亿,这与 1970 年代中期只有几千个晶体管的处理器相去甚远。过去几十年中,影响半导体行业最深远的技术就是晶体管的稳步发展。在半导体制造领域,每一代新技术都会带来晶体管密度的提高,近几年,我们也一直能够听到:「摩尔定律无法延续,晶体管无穷小的极限即将到来。」之类的声音。在最近的 IEEE 国际电子设备会议上,英特尔、三星、台积电三个巨头都展示了自家最新的技术情况。其中,不约而同的出现了 CFETS(互补场效应晶体管)
  • 关键字: CFET  

英特尔、三星和台积电演示3D堆叠晶体管,三大巨头现已能够制造互补场效应晶体管(CFET),摆脱摩尔定律的下一个目标。

  • 在本周的IEEE国际电子器件大会上,台积电展示了他们对CFET(用于CMOS芯片的逻辑堆栈)的理解。 CFET是一种将CMOS逻辑所需的两种类型的晶体管堆叠在一起的结构。在本周的旧金山IEEE国际电子器件大会上,英特尔、三星和台积电展示了他们在晶体管下一次演变方面取得的进展。芯片公司正在从自2011年以来使用的FinFET器件结构过渡到纳米片或全围栅极晶体管。名称反映了晶体管的基本结构。在FinFET中,栅通过垂直硅鳍控制电流的流动。在纳米片器件中,该鳍被切割成一组带状物,每个带状物都被栅包围。 CFET
  • 关键字: CFET   IEEE   台积电,三星,英特尔  

日立高新技术公司部宣布推出其GT2000高精度电子束测量系统

  • 日立高新技术公司宣布推出其GT2000高精度电子束测量系统。GT2000利用日立高新技术在CD-SEM*1方面的技术和专业知识,在那里占有最大的市场份额。GT2000配备了用于尖端3D半导体器件的新型检测系统。它还利用低损伤高速多点测量功能用于high-NA EUV*2抗蚀剂晶片成像,以最小化抗蚀剂损伤并提高批量生产的产率。日立高新技术(Hitachi High-Tech)GT2000 CD-SEM将能够实现高级半导体器件制造过程中的高精度、高速测量和检测,这些半导体器件正变得越来越小型化和复杂化,并有助
  • 关键字: 日立高新  测试测量  GAA  CFET  

芯片巨头们已着手研发下一代CFET技术

  • 国内外开始积极探索下一代先进晶体管技术。
  • 关键字: CFET  

GAA技术才开始,半导体大厂已着手研发下一代CFET技术

  • 外媒eNewsEurope报道,英特尔和台积电将在国际电子元件会议(IEDM)公布垂直堆叠式(CFET)场效晶体管进展,这有望使CFET成为十年内最可能接替全环绕栅极晶体管(GAA)的下一代先进制程。CFET场效晶体管将n和p两种MOS元件堆叠在一起,以实现更高的密度。该项技术最初由比利时微电子研究中心(IMEC)于2018年所提出的。虽然,大多数早期研究以学术界为主,但英特尔和台积电等半导体企业现在已经开始这一领域的研发,借此积极探索这种下一代先进晶体管技术。英特尔表示,研究员建构一个单片3DCFET,
  • 关键字: GAA  CFET  
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