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芯测 文章

芯测科技提供便捷版内存测试方案EZ-BIST

  •   中美贸易战持续延烧,引发后续波及全球的贸易战争,当中更是突显知识产权合法的重要性。有鉴于此,深耕于开发内存测试与修复技术的芯测科技(iSTART-Tek,简称iSTART)为了协助客户对知识产权领域规避严重失信的风险,日前推出最新便捷版内存内建式自我测试(MBIST)测试方案「EZ-BIST」,适用于MCU相关的系统芯片开发商。采用芯测科技(iSTART)所提供低成本且高效率的内存测试开发工具,可协助客户快速的开发产品,避免忽略内存测试的细节而导致产品良率下降,而其适用的应用如触控屏、指纹辨识、语音识
  • 关键字: 芯测  EZ-BIST  
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芯测介绍

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