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失效机理 文章

解析CAF失效机理及分析方法

  • 1 前言  在电子设备领域,以汽车电子或某些军工装备为例,其对耐高温高湿环境的要求较高。随着此类产品向着 ...
  • 关键字: CAF  失效机理  

智能卡失效机理研究及分析实例

  • 电子产品世界,为电子工程师提供全面的电子产品信息和行业解决方案,是电子工程师的技术中心和交流中心,是电子产品的市场中心,EEPW 20年的品牌历史,是电子工程师的网络家园
  • 关键字: 智能卡  失效机理  IC卡  芯片  

从安全工作区探讨IGBT的失效机理

  • 摘要:本文阐述了各安全工作区的物理概念和超安全工作区工作的失效机理。讨论了短路持续时间Tsc和栅压Vg、集电极—发射极导通电压Vce(on)及短路电流Isc的关系。 关键词:安全工作区 失效机理  短路电流Tsc 1、  引言   半导体功率器件失效的原因多种多样。换效后进行换效分析也是十分困难和复杂的。其中失效的主要原因之一是超出安全工作区(Safe Operating Area简称SOA)使用引起的。因此全面了解SOA,并在使用中将IGBT的最大直流电流IC和集电极—发射极电
  • 关键字: 安全工作区  失效机理  短路电流Tsc  电源  
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失效机理介绍

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