- 罗德与施瓦茨为在片器件的完整射频性能表征提供测试解决方案，该方案结合了罗德与施瓦茨强大的R&S ZNA矢量网络分析仪和FormFactor先进的工程探针台系统。半导体制造商可以在产品的开发、认证和生产阶段执行可靠且可重复的在片器件特性测试。 整个在片测量工作由R&S ZNA矢量网络分析仪与FormFactor SUMMIT200探针台系统一起完成。5G 射频前端设计师需要确保适当的器件输出功率和射频带宽，同时兼顾优化器件效率。设计流程中的一个重要阶段是验证射频设计，尽早获得相关设
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罗德与施瓦茨 在片器件测试
在片器件测试介绍
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